反射膜厚仪
反射光谱干涉法是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
反射膜厚仪
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
显微反射膜厚仪
MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量.....
反射膜厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
反射膜厚仪
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
反射膜厚仪
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域
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